2017年11月27日～30日に台湾?台北で開催された、第26回IEEE Asian Test Symposiumにおいて、橋爪正樹教授と四柳浩之准教授@電気電子システムコースがBest Paper Awardを受賞しました。
今回の受赏は、台湾科技大学尝耻教授と、桥爪教授、四柳准教授が行ってる共同研究に関して発表した论文が、优秀であると赏されたものです。
＜受赏论文题目＞
「Fault-Aware Page Address Remapping Techniques for Enhancing Yield and Reliability of Flash Memories」
＜受赏日＞2018年10月16日
